Alvin W. Czanderna (Autor) / Nejlevnější knihy

Knihy od autora Alvin W. Czanderna

Zobrazeno 1 – 6 z 6 výsledků

Další

Stránka 1. z 1

Předchozí

Řadit podle a zobrazit také nedostupné

  1. Ion Spectroscopies for Surface Analysis

    Ion Spectroscopies for Surface Analysis

    Alvin W. Czanderna, David M. Hercules | Springer, Berlin, 1991


    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-17 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Pevná

    2987

  2. Ion Spectroscopies for Surface Analysis

    Ion Spectroscopies for Surface Analysis

    Alvin W. Czanderna, David M. Hercules | Springer-Verlag New York Inc., 2012


    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-17 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Brožovaná

    1681

  3. Specimen Handling, Preparation, and Treatments in Surface Characterization

    Specimen Handling, Preparation, and Treatments in Surface Characterization

    Alvin W. Czanderna, Cedric J. Powell, Theodore E. Madey | Springer-Verlag New York Inc., 2013


    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-17 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Brožovaná

    5094

  4. Specimen Handling, Preparation, and Treatments in Surface Characterization

    Specimen Handling, Preparation, and Treatments in Surface Characterization

    Alvin W. Czanderna, Cedric J. Powell, Theodore E. Madey | Springer Science+Business Media, 1999


    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-17 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Pevná

    5094

  5. Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

    Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

    Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell | Springer Science+Business Media, 1998


    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-17 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Pevná

    5094

  6. Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

    Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

    Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell | Springer-Verlag New York Inc., 2010


    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-17 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Brožovaná

    5094

Další

Stránka 1. z 1

Předchozí

Záznamů na stránku

Filtrovat výsledky

Jazyk
  • Angličtina6
Vazba
  • Pevná3
  • Brožovaná3
Dostupnost
  • Do měsíce6
Rok vydání
  • 20131
  • 20121
  • 20101
  • 19991
  • 19981
  • 19911
Rozsah ceny

-



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: